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FIB FIB修正 FIB加工 FIB回路修正 回路修正 FIBサービス FIB加工サービス 回路修正サービス FIB回路修正サービス 銅配線加工 銅配線修正 Cu加工 カッパ−配線加工 カッパ−配線修正 アルミ配線加工 アルミ配線修正 EB解析 EBプロービング EBプローブ ナビゲーション Navigation CAD ナビゲーション CAD キャドナビゲーション End Point 終点検出 LowK Low-K Low K 集束イオンビーム イオンビーム イオンミリング |
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当社の使っている集束イオンビーム（Focused Ion Beam）加工装置、以下略してFIB加工装置はGa（ガリウム）イオンを高電圧で加速し、発生した二次電子を検出して、リアルタイムな画像を観察しながら、対象物を加工することが可能です。| ▲PageTop |
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